par Demey, Simon;Wiame, Charles;Oestges, Claude ;De Doncker, Philippe
Référence (08-11 February, 2022: Bologna, Italy), Proc. of the European Cooperation in Science and Technology (EURO-COST CA20120 TD(22)01063)
Publication Publié, 2022-02
Publication dans des actes
Titre:
  • Joint rate and power density analysis in Manhattan environments: (a comparison of) stochastic geometry and ray-tracing approaches
Auteur:Demey, Simon; Wiame, Charles; Oestges, Claude; De Doncker, Philippe
Informations sur la publication:(08-11 February, 2022: Bologna, Italy), Proc. of the European Cooperation in Science and Technology (EURO-COST CA20120 TD(22)01063)
Statut de publication:Publié, 2022-02
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Mots-clés:EMF exposure
stochastic geometry
ray tracing
Langue:Anglais